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X射线元素成分分析仪

X射线荧光光谱仪(X-rayFluorescenceSpectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。

X射线元素成分分析仪

    XRF用X光或其他激发源照射待分析样品,样品中的元素内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出特征X光;不同的元素会放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波长特性。
    不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同,因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。射线强度与相应元素在样品中的含量有关,因此通过测试其强度实现元素的定量分析。
    检测器(Detector)接受这些X光,仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析,在某种程度上与原子吸收光谱仪实现互补。
    X射线荧光光谱(XRF)技术是一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术,已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。
    X射线形成部分电磁波谱。其处于紫外线辐射的高能侧,使用千电子伏特表示能量高低,纳米表示波长。
    XRF一般可用于分析从钠到铀的所有元素,其可识别浓度范围zui低至百万分级,高至百分比,可用于分析固体、液体和粉状物。
    所有XRF仪器都拥有两个主要成分,一个是X射线源,一般采用X射线管,另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面,有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时,会产生次级X射线,这些次级X射线会被探头收集并处理。

X射线元素成分分析仪