X荧光光谱仪的应用非常广泛，可以分为：ROHS检测X荧光光谱仪，镀层测厚x荧光光谱仪，合金分析X荧光光谱仪，矿石元素X荧光光谱仪，贵金属检测x荧光光谱仪，古陶瓷元素含量x荧光光谱仪，硫元素检测XRF,食品重金属检测仪，波长色散x荧光光谱仪。ROHS检测是x荧光光谱仪的大应用。介绍一款天瑞EDX1800B测试仪。

技术参数
元素分析范围：硫（S）~ 铀（U）
分析检出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围：15℃ ~ 30℃
电源：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：144±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg

标准配置

移动样品平台

电制冷Si-PIN探测器

信号检测电子电路

高低压电源

大功率X光管

计算机及喷墨打印机

性能特点
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
检测75种元素·1ppm检出限·重复性0.05%·稳定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射线的辐射水平与普通大气环境状态下相等
性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
仪器上盖的测试自锁和高压电源紧急锁功能，带给您全方位防护

型号：EDX4500

X荧光光谱仪是高效便捷、节能环保的元素分析仪，它不需要使用任何化学试剂和复杂的前处理设备，对人员的要求也比较简单。是适合工厂环境的分析设备。随着半导体探测技术和计算机技术的发展并结合，x荧光光谱仪的发展应用越来越广泛，仪器性能也进一步加强，重复性，检测限，分辨率不断提升，而无标样分析FP方法的诞生，使得XRF可以适用各种复杂物质的定性和半定量分析，固体、液体、粉末直接定量分析。

EDX4500是天瑞仪器研发生产的一款高端XRF分析仪，带真空装置，能够对Si，P,S等轻元素进行有效分析，对镍，镉，铅，汞等低含量重金属也高精度的分析。该款设备采用美国原装进口探测器和x光管。具有业界独有的检测精度和分辨率。

技术指标
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-200秒
能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA

标准配置
低能级高效薄窗X光管
薄窗大面积的原装进口SDD探测器
低能光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，迷宫式设计，力度可靠的保证
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
样品腔体积：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
高效真空泵

性能特点

高效薄窗X光管，指标达到国际水平

新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好

SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比

低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好

智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围

自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性

高信噪比的电子线路单元

针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐

解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度

多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制

内置高清晰摄像头

液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然

江苏天瑞仪器股份有限公司是生产ROHS检测仪，气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪，电感耦合等离子体发射光谱仪,ROHS分析仪，X射线镀层测厚仪，气相色谱仪，ROHS测量仪，液相色谱仪，ROHS2.0分析仪，XRF合金分析仪，X荧光光谱仪，汽油中硅含量检测仪， ROHS检测仪器，手持式合金分析仪等，涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A，Thick8000，ICP2060T,GC-MS6800，ICP-MS2000等。

江苏天瑞仪器股份有限公司

：刘经理

网站网址：www.skyray-instrument.com.cn

工厂地址：江苏省昆山市园西路1888号